题目：基于故障预测的电子系统测试点选取研究

测试点选取是电子系统PHM系统设计过程中的一个重要步骤，需要在电子系统设计阶段考虑产品功能特性、使用条件、故障特性、测试性之间的关系，选出合适的测试点，为故障诊断和故障预测提供支持。本文中从故障机理的类型出发，分析故障诊断和预测对测试点的不同要求，研究了模拟电子系统各层次的测试点选取方法。论文研究工作主要包括以下内容：

（1）对国内外测试选取方法及相关内容进行了调研。在分析了相关文献的基础上，将现有测试点选取方法分为两类：结合具体故障诊断方法的测试点选取方法，基于测试点模型的测试点选取方法，并讨论了它们各自的优点与不足。对FMMEA、电路仿真方法进行讨论，探索了这些机理分析方法在测试点选取过程中的具体应用。

（2）研究了测试点性能评价方法。考虑故障诊断和故障预测对故障信号的不同要求，对过应力型机理故障提出了测试点对故障的可测度指标，对耗损型机理故障提出了测试点对故障预测的及时度和可预测度指标。在此基础上，本文提出了可测度和可预测度的计算方法。

（3）研究了模拟电子系统测试点选取方法。该方法针对模拟电子系统各层次不同特点，对各层次测试点选取提出了各自的选取流程。在器件级测试点选取过程中对两类故障分别建立故障矩阵进行分析，这样既可以充分利用测试点信息还能减少测试点数量。本文最后以某型电路板电源子系统为例，给出了该系统测试点选取的具体流程。