当前位置:电子与通信技术题库>集成电路工艺原理题库

问题:

[判断题] 各向异性的刻蚀剖面是在所有方向上(横向和垂直方向)以相同的刻蚀速率进行刻蚀。

正确。错误。

问题:

[判断题] 干法刻蚀是亚微米尺寸下刻蚀器件的最主要方法,湿法腐蚀一般只是用在尺寸较大的情况下刻蚀器件,例如大于3微米。

正确。错误。

问题:

[判断题] 不正确的刻蚀将导致硅片报废,给硅片制造公司带来损失。

正确。错误。

问题:

[判断题] 对于大马士革工艺,重点是在于金属的刻蚀而不是介质的刻蚀。

正确。错误。

问题:

[判断题] 刻蚀速率通常正比于刻蚀剂的浓度。

正确。错误。

问题:

[判断题] 刻蚀的高选择比意味着只刻除想要刻去的那一层材料。

正确。错误。

问题:

[判断题] 在半导体生产中,湿法腐蚀是最主要的用来去除表面材料的刻蚀方法。

正确。错误。

问题:

[判断题] 在刻蚀中用到大量的化学气体,通常用氟刻蚀二氧化硅。

正确。错误。

问题:

[判断题] 与干法刻蚀相比,湿法腐蚀的好处在于对下层材料具有高的选择比,对器件不会带来等离子体损伤,并且设备简单。

正确。错误。

问题:

[判断题] 高密度等离子体刻蚀机是为亚0.25微米图形尺寸而开发的最重要的干法刻蚀系统。

正确。错误。