[单选] 探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。

如果探测面毛糙，应该采用（）。 A、不太高频率的探头。 B、较高频率的探头。 C、硬保护膜探头。 D、大晶片探头。 商品（狭义） 用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。 A、愈高愈好。 B、愈低愈好。 C、不太高。 D、较寻常时取高值。 简述样品鉴定的内容包括哪些方面？ 简述新产品的开发程序有哪些？ 探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。