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问题:

[问答题,简答题] 简述新产品的开发程序有哪些?

用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。 ["A、面积大的,当量也一定大","B、面积大的,当量不一定比面积小的大","C、面积大的,当量反而比面积小的小","D、相等"] 探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是()。 ["A、聚焦探头","B、直探头","C、斜探头","D、串列双斜探头"] 简述投产鉴定的内容? 经济合理性 新产品构思 简述新产品的开发程序有哪些?
参考答案:

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