问题：
[单选] 探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。
A、聚焦探头。B、直探头。C、斜探头。D、串列双斜探头。
问题：
[单选] 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。
A、面积大的，当量也一定大。B、面积大的，当量不一定比面积小的大。C、面积大的，当量反而比面积小的小。D、相等。
问题：
[单选] 用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。
A、愈高愈好。B、愈低愈好。C、不太高。D、较寻常时取高值。
A、不太高频率的探头。B、较高频率的探头。C、硬保护膜探头。D、大晶片探头。
问题：
[单选] 直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm，前者底面回波为满幅度80%时，则后者底面回波应为其（）。
A、5%。B、10%。C、20%。D、40%。
问题：
[单选] 探头的近场长度由下式决定（式中λ波长，f频率，D晶片直径）（）。
A、N=1.22λ/D。B、N=D/4λ。C、N=D2/4λ。D、N=2/D。
问题：
[单选] 超声波垂直于界面入射时，其声压反射率为（）。
A、r=（Z2—Z1）/（Z2+Z1）。B、r=2Z1/（Z1+Z2）。C、r=4Z1/（Z1+Z2）。D、r=Z1/（Z1+Z2）。
问题：
[单选] 一般认为，超声波探伤用活塞波探头，其声场的不扩散区域长度等于（）。
A、一倍近场N。B、1.6N。C、3N。D、2.4N。
问题：
[单选] TB/T2340—2000标准规定，0°探头探测WGT-3试块110mm底面，当波高达到80%时，灵敏度余量不小于（）。
A、32dB。B、38dB。C、42dB。D、36dB。
问题：
[单选] TB/T2340—2000标准规定，0°探头探测深度20mm到距离幅度特性曲线最高点范围内，△w≤（）。
A、6dB。B、8dB。C、10dB。D、12dB。
