题目：箔条及等离子体散射测量技术研究

箔条散射测量系统用于实现对箔条云与等离子体的双路快速扫频测量，为兵器隐身技术提供雷达散射截面数据参数。论文从硬件与软件两大方面对系统实现方案进行了论述。对基于两种微波信号源的快速扫频实施方案进行了比较；提出了使R&S SMR 20信号源满足快速扫频测量要求的改进方案；结合扫频测量成像原理，对系统微波射频模块的硬件结构进行了阐述；介绍了控制/中频单元单片机控制电路的实现方法；研究了系统在不同触发方式下进行测量时的数字时序与工作流程；简述了系统动态范围测量与一维成像分辨率测量的测量方法；给出了测量结果并对结果进行了总结。介绍了系统软件平台需要实现的功能；分别研究了微波信号源HP 8350与R&S SMR 20在扫频过程中的控制方案；研究了采集卡在非双缓冲模式下的工作流程；介绍了PCI-GPIB接口卡在信号源程控过程中的应用方法；介绍了扫频测量的雷达散射截面的计算方法；实现了上位机与系统控制/中频单元的通信；实现了基于多线程的数据采集控制方法；实现了对原始测量数据的雷达散射界面计算并给出了部分计算结果。此外，作者的工作与箔条散射测量系统尚存的技术问题在论文结论部分进行了总结。