当前位置:电子与通信技术题库>集成电路工艺原理题库

问题:

[填空题] 在外延工艺中,如果膜和衬底材料(),例如硅衬底上长硅膜,这样的膜生长称为();反之,膜和衬底材料不一致的情况,例如硅衬底上长氧化铝,则称为()。

问题:

[填空题] 如果淀积的膜在台阶上过度地变薄,就容易导致高的()、()或者在器件中产生不希望的()。

问题:

[填空题] 对芯片互连的金属和金属合金来说,它所必备一些要求是()、高黏附性、()、()、可靠性、抗腐蚀性、应力等。

问题:

[填空题] 在半导体制造业中,最早的互连金属是(),在硅片制造业中最普通的互连金属是(),即将取代它的金属材料是()。

问题:

[填空题] 写出三种半导体制造业的金属和合金()、()和()。

问题:

[填空题] 终点检测是指()的一种检测到平坦化工艺把材料磨到一个正确厚度的能力。两种最常用的原位终点检测技术是()和()。

问题:

[填空题] 硅片平坦化的四种类型分别是()、部分平坦化、()和()。

问题:

[填空题] CMP是一种表面()的技术,它通过硅片和一个抛光头之间的相对运动来平坦化硅片表面,在硅片和抛光头之间有(),并同时施加()。

问题:

[填空题] 光刻包括两种基本的工艺类型:负性光刻和(),两者的主要区别是所用光刻胶的种类不同,前者是(),后者是()。

问题:

[填空题] 在干法刻蚀中发生刻蚀反应的三种方法是()、()和()。