● 摘要
本论文主要研究了一种新型的嵌入式系统软件的测试方法，即“嵌入式系统的非干涉测试方法”（Non-Interference Test，NIT）。提出了这种测试方法的模型和实现架构，研究了应用这种测试方法时需要解决的各种关键技术和重要问题，包括NIT的基本原理、NIT如何面向异质目标系统进行测试、NIT测试过程中的数据处理流程及对应算法、将NIT测试方法应用于高性能处理器基于架构调节的优化方法。根据这些研究成果在实际测试项目中的应用给出了一个测试案例说明NIT的应用情况。第一章，论文以综述的方式说明了嵌入式系统测试相关的技术背景及对应研究成果和研究现状。在分析了现有测试方法应用于嵌入式系统软件测试中的各种局限之后，总结了目前测试方法已经取得的进展和现状以及需要解决的问题。然后提出了解决问题的思路，引出NIT测试方法，并总括的说明完成的研究工作。第二章，论文给出了NIT的模型及其准确定义。随后提出了NIT架构即NITF(NIT Framework)，利用NITF将NIT模型一般化；以及NIT应用平台NITP（NIT Platform）的实现，即NITP的工具集构成，说明了如何通过具体化NITF和NITP完成特定NIT应用项目。第三章，论文讨论了如何一般化的将NIT方法应用于各种不同架构的异质目标系统，包括如何将NIT方法应用于不同的硬件对象、不同的嵌入式操作系统、不同的高级编程语言、甚至应用于分布式嵌入式系统时应该解决的问题。第四章，论文讨论了将NIT方法应用于各种应用项目中都必须解决的共同问题，也是NIT本身的一个关键问题，即如何在NIT应用的各个阶段对静态测试数据和动态测试数据如何处理的问题。先后讨论了数据处理流程、被测软件的静态分析、动态测试数据的分析和过滤、动态测试数据的滑动窗口处理办法以及对应的算法。第五章，论文讨论了将NIT测试方法应用于高性能处理器基于架构调节的优化方法，并将这种思想方法拓展到SOC计算环境中。为了说明可行性，针对这些研究给出了仿真试验的设计、实施和分析。并对如何在体系结构上实现对测试和性能优化的支持提出了建议。第六章，论文给出了将NIT方法应用于实际测试项目中的一个应用案例，基本说明了NIT方法的可行性以及实际测试效果，在附录中给出了有关该应用案例的详细资料。