● 摘要
基于研发成本和企业竞争力考虑，很多芯片商和卡片商都会开发自己的智能卡测试平台。但是，所开发测试平台的自动化水平往往较低。针对上述问题，本文提出了智能卡自动化测试辅助系统，实现了测试框架。
智能卡自动化测试辅助系统主要解决智能卡应用测试库开发过程中的三个关键问题：测试数据冗余；测试用例组织与执行方式；测试系统持续运行保证。这些问题的解决使得智能卡应用测试库的开发效率有了大幅度提高。
智能卡测试数据分为基础数据和派生数据两类，分别存储在不同的文件中。派生数据集从基础数据集或其他派生数据集继承，从而解决了测试数据冗余问题。派生数据集包含了某个个人化特征卡片的测试所需要的所有数据，在执行时复制到测试用例所在空间，降低了用户的理解和使用难度。
测试用例使用测试用例树进行组织，其在树中的位置与所在的文件和路径无关。测试用例可以被自动检索和执行，并在执行完成后自动生成测试报告。另外，还可以基于模板自动生成部分测试用例。
测试系统的持续运行是通过将测试用例导入到独立空间中执行来实现的，从而避免了对后续测试用例的影响。系统的持续运行能力是智能卡稳定性测试的必要保障。
系统已经在金融卡的借贷记测试库中应用。经应用验证和效率分析表明，智能卡自动化测试辅助系统的应用，在智能卡测试库的开发和维护过程中取得了良好成果。