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问题:

[单选] 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。

A . A、面积大的,当量也一定大
B . B、面积大的,当量不一定比面积小的大
C . C、面积大的,当量反而比面积小的小
D . D、相等

直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm,前者底面回波为满幅度80%时,则后者底面回波应为其()。 A、5%。 B、10%。 C、20%。 D、40%。 如果探测面毛糙,应该采用()。 A、不太高频率的探头。 B、较高频率的探头。 C、硬保护膜探头。 D、大晶片探头。 商品(狭义) 简述投产鉴定的内容? 简述样品鉴定的内容包括哪些方面? 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。
参考答案:

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