● 摘要
随着集成电路复杂度日益提高，测试成本也在不断增加，测试成本的一项重要因素是开发测试程序所耗费的时间和资源，因而低成本测试开发系统成为测试市场的发展方向。目前，测试超大规模集成电路和SoC（System-on-a-Chip）的能力在不断增加，并且方法也在不断改进，由此产生的测试向量十分庞大，并且测试向量中所包含的测试内容也越来越多，但是与此同时，由于芯片的设计要求与测试系统的测试能力仍然存在巨大差异，导致仿真后的测试向量不能直接应用于测试系统中，如何快速有效地把设计仿真后的测试向量转换为测试系统所能接受的数据格式，缩短测试程序的开发时间，成为降低测试成本的一个研究方向。 本文在实际工程的基础上，对此进行了深入的探讨和研究。本文研究了常用测试向量格式语言和测试程序语言，系统介绍了测试开发系统的体系结构以及各个组成部分，介绍了当今的测试开发系统方面的研究成果，详细分析了在测试向量转换子系统中的大型向量文件处理技术及其利用内存映射技术的解决算法从而实现测试向量转换以及向量优化中的毛刺消除，信号对齐，波形截取，波形窗口采样，信号选择，信号生成等关键问题，并给出相应的解决方法及其算法实现。在此基础上，设计并实现了一个测试向量转换子系统。