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问题:

[判断题] 釉质龋的发展过程中,损害进展的最前沿是暗带。

正确。错误。

问题:

[单选] 釉质成形术磨去的釉质部分应()

A.大于釉质厚度的1/2。B.小于釉质厚度的1/3。C.小于釉质厚度的2/3。D.大于釉质厚度的1/3。E.大于釉质厚度的2/3。

问题:

[单选] 根据G.V.BlACk分类法,下颌磨牙颊侧面2/3的颊面洞属于()

A.Ⅰ类洞。B.Ⅱ类洞。C.Ⅲ类洞。D.Ⅳ类洞。E.Ⅴ类洞。

问题:

[单选] 备洞时洞侧壁的釉质壁必须与釉柱的方向()

A.呈75度。B.垂直。C.平行。D.呈30度。E.呈60度。

问题:

[单选] 临床记录时,常以英文字母的大写形式表示龋损或窝洞的位置,L表示()

A.舌面。B.切缘。C.面。D.唇面。E.腭面。

问题:

[单选] 为达到良好的抗力形,下列哪项是错的()

A.洞底要平,洞底轴壁与髓壁相交形成的轴髓线角不应超过锋锐。B.洞形要有一定的深度。C.邻洞应制成阶梯。D.邻洞邻面部分龈壁应作成斜向龈方的斜面。E.去除薄壁弱尖。

问题:

[单选] 下列备洞原则中哪项是错的()

A.尽可能去除龋坏组织。B.底平壁直、点线角清晰。C.边缘外形线应备成圆缓曲线。D.洞壁无倒凹。E.作预防性扩展。

问题:

[单选] Ⅲ类洞制备时()

A.必须做鸠尾。B.无需做鸠尾。C.在舌侧(腭侧)作相应的鸠尾。D.在颊侧设计相应鸠尾。E.以上都不对。

问题:

[单选] Ⅴ类洞充填备洞后时,要求()

A.严格的抗力形。B.适当的固位形。C.底平壁直。D.与牙面外形一致。E.必须做鸠尾。

问题:

[单选] Ⅴ类洞必要时可在何处做倒凹以增加固位()

A.洞壁与轴壁相交的线角。B.近中轴线角。C.远中轴线角。D.轴线角和龈轴线角。E.洞壁任何部位。