题目：环境应力筛选中的优化技术研究

七十年代末期发展起来的环境应力筛选方法已被实践证实是提高电子产品可靠性的重要措施。然而，随着电子工业的迅速发展，电子产品的集成度和人们对电子产品可靠性的要求越来越高。为了适应这一变化必须提高环境应力筛选的效率，也即对环境应力筛选进行优化。目前的高效环境应力筛选，主要是通过对电子产品施加快速的温度循环和宽带随机振动应力，使之尽可能多地激发出产品工艺及元件方面的隐患，以提高电子产品可靠性。因此，本文主要是根据电子产品的统计特性及温度循环和随机振动作用下电子产品的失效机理，对环境应力筛选进行优化。本文根据电子产品的统计特性，对由同类器件组成的系统的环境应力筛选优化方法进行了推广，得出了由不同类器件组成的系统的筛选优化模型。同时，对温度循环和随机振动载荷下电子产品的失效机理进行了理论分析，得出了温度循环应力下的两种加速因子模型和随机振动应力下的寿命评估模型，并据此对环境应力筛选进行优化。本文中环境应力筛选优化的对象是时间，即在给定筛选后产品失效率或MTBF条件下，确定最优筛选时间。通过算例验证，文中提出的优化模型是正确有效的。本文除了直接应用Matlab软件对一些算例进行计算外，还针对温度循环加速因子模型编写了C#应用程序，经验证该程序简单易用，结果准确。总之，本文通过对电子产品统计特性和温度循环、随机振动作用机理的研究，得出了筛选时间的优化模型。这些模型在工程应用中有重要的参考价值。