题目：控制图参数优化算法及系统实现关键技术研究

控制图作为质量控制中使用广泛而有效的一种工具，其正确、合理的使用对产品质量保证起到至关重要的作用。本文针对常规控制图在过程小偏移、过程自相关时控制图灵敏度下降，乃至失效等问题，对EWMA控制图、CUSUM控制图以及自相关过程残差控制图的参数优化流程和算法进行了研究，并基于matlab平台给出了其优化算法的系统实现。主要研究内容如下： 1．分析了常规控制方法、小偏移过程控制方法和自相关过程控制方法，研究了EWMA控制图和CUSUM控制图性能随参数的变化；介绍了自相关过程的定义及辨识方法，给出了残差控制图性能随参数和偏移量的变化情况。 2．基于马尔可夫链法对小偏移过程质量控制图参数优化方法进行了研究，给出了EWMA和CUSUM控制图参数优化的一般步骤及优化算法。 3．基于matlab平台，对自相关过程质量控制方法进行仿真研究，给出了自相关过程的控制图实现方法及算例验证。 4．构建了系统的总体框架、功能模型和信息模型，基于J2EE技术开发了控制图参数优化系统，并与QQ-JG集成质量管理信息系统中统计过程控制模块集成，实现了小偏移过程和自相关过程的控制图参数优化。 最后，对全文进行了总结，并对进一步的研究进行了展望。