题目：基于PoF的光电耦合器贮存退化模型研究

 

随着武器装备寿命的增长和实际作战需求的变化，贮存可靠性得到越来越多的重视。元器件作为武器装备的基本组成单元，应首先开展其贮存可靠性的研究。在众多元器件类型中，光电耦合器作为组合光电器件，在结构和功能上具有自身特点且被大量应用于武器装备中的重要部位。故本论文将光电耦合器选为研究对象。同时在研究方法方面，加速贮存退化试验是研究和评价产品贮存可靠性的重要手段。在利用加速贮存退化试验进行贮存可靠性评价过程中，需要建立贮存退化模型。而现有基于数据驱动的退化模型建模方法存在过拟合、外推误差较大等不足。故本论文将结合失效物理理论，建立基于器件底层退化过程的光电耦合器贮存退化模型。

本论文以光电耦合器为对象，结合加速试验方法和失效物理理论，开展其贮存退化模型的研究。首先，论文开展光电耦合器功能和结构分析，对光电耦合器的分类和功能原理结构进行介绍，并选取了GHX型光电耦合器作为对象，结合结构分析确定了器件和功能组成和内部结构。其次，论文设计了GHX型光电耦合器加速贮存试验方案。通过实施加速贮存试验获得光电耦合器退化样品以及退化数据。再次，论文开展了光电耦合器贮存退化机理研究，对光电耦合器加速贮存试验退化样品进行理化分析，判明光电耦合器在贮存条件下的退化机理。最后，论文开展光电耦合器贮存退化模型研究，借鉴已有材料退化研究结果，针对光电耦合器在贮存条件下的退化机理，确定退化发生部位材料的退化规律。结合光电耦合器工作原理和工艺仿真，建立光电耦合器中材料退化与性能的关系。在上述两方面研究的基础上，分析建立光电耦合器贮存退化模型，即性能参数退化量随时间及应力的变化关系，并对贮存退化模型进行分析和讨论，研究模型中参数的关系及适用范围。

论文结合失效物理理论，通过加速试验，获得的光电耦合器贮存退化机理可指导光电耦合器可靠性设计。同时，论文建立的光电耦合器贮存退化模型可用于光电耦合器贮存可靠性的评估。