● 摘要
信息时代的到来，极大的促进了科学和生产的发展，电子信息系统设备日趋大型化、精密化，具有技术构成复杂、综合集成度高、电子类组件和光学组件结合紧密、电磁工作环境恶劣等特点，对测试和测量精度、量程、频段提出更高要求，其测试工作量之大，内容之复杂，对测试速度、精度要求之高，故障定位、分析和排除难度之大，传统的测试方法、测试手段和测试系统已不能满足这方面的需求，小到传感器，大到飞机、卫星，对其性能指标实施可靠、高精度的检测，都必须依靠自动测试技术。
本文着眼现阶段自动检测技术现状，针对当前大型、综合性电子信息系统大容量、高精度测量、检测需求，提出一种基于PXI测试总线技术，具备宽频带、高精度测试能力，集测量、检测、故障诊断及信息管理于一体的通用自动检测系统平台方案，为电子信息系统及专用自动检测设备设计制造、维护维修资源规划等提供参考。
本文首先介绍了自动测试技术、测试仪器及测试总线的国内外发展及应用现状，论述了虚拟仪器+PXI测试总线的自动测试系统模式。其次，针对当前电子信息系统性能检测和故障诊断现状进行需求分析，提出了基于PXI总线的自动测试系统总体架构，并结合需求完成测试系统总体方案设计及各个子系统的详细框架设计及功能介绍，重点介绍了虚拟仪器子系统、自动测试子系统及公共支撑子系统的功能设计、指标设计和设计说明。然后，对该系统进行了功能性和非功能性测试，并对产生的问题进行了总结和回归。最后，对系统实施过程中组织架构、实施流程进行规划，并提出了系统实施的质量和标准化管理措施，并对实施效果进行了阐述和成果展示。
综上所述，对基于PXI总线的通用检测技术进行探索研究，并提出科学合理的基于PXI总线的通用检测平台的设计方案，对于当前大型电子信息系统设计制造、故障诊断、经济成本、质量成本管理意义深远。