● 摘要
量子纠缠和量子克隆是量子信息学中的两大重要概念, 对纠缠态的刻画与判定及对量子克隆机的寻求是科学家关注的最具有挑战性的两个问题. 本文主要研究可检测纠缠态的正但不完全正映射和维量子系统中纯态的量子克隆机, 全文共分三章:
第一章, 介绍了量子信息的研究现状, 简要说明了本文所作的主要工作, 给出了本文涉及到的量子信息中的一些定义和性质定理.
第二章, 研究了最优的正但不完全正映射(ONCPM)和最优的不可分解正但不完全正映射(nd-ONCPM), 得出了一些定理, 进而建立了最优的纠缠目击(OEW), 最优的不可分解纠缠目击(nd-OEW), ONCPM与nd-ONCPM四者之间的关系.
第三章, 首先证明了在复数范围内量子克隆机可精确克隆量子态的充要条件. 接着提出了输入态的克隆质量指数与输出态的三个纠缠指数的定义, 并分别给出了三个纠缠指数与克隆质量指数之间的关系. 最后, 应用函数方法证明了三个纠缠指数的大小关系.
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