● 摘要
随着科学技术的发展,产品的可靠性越来越高,寿命越来越长,如果利用古典的抽样方法,那么试验时间就超出了人们的接受程度,所以需要一种试验时间短,满足需要的验证方法,所以本文提出了无故障验证试验方法,本文主要对以下几个方面进行了研究:本文第一部分首先介绍了无故障验证试验的背景,接着着重分析了当前无故障验证试验的意义及现状,对我国目前无故障验证试验的发展现状及主要研究方向作了详细的介绍,同时分析了我国目前试验存在的问题。并且对接下来的研究内容作了简要的介绍。本文第二部分主要对基于指数分布的失效率的无故障验证试验进行了分析。主要研究了定时截尾试验中,基于BAYES的指数分布的无故障验证试验,给出了试验的一般步骤。结果表明所需要的时间比经典试验所需的时间大大缩短了,此验证方案特别是对于长寿命,高可靠性的产品能够极大地缩短试验时间,较大地降低试验成本。本文第三部分主要对指数分布型MTBF的验证试验进行分析。介绍了在指数寿命型产品可靠性验证试验中,一种基于BAYES理论的MTBF验证试验,给出了试验的一般方案。经分析,表明该方案能够充分利用鉴定试验的信息,所需样本少,且试验时间比传统方案较短,较大的节约了试验成本。本文第四部分主要对MTBF保证试验的理论和应用进行分析。首先从假设产品寿命分布服从指数分布出发,得到试验过程的数学描述,从而给出了试验通过概率的表达式。然后从试验方案和风险分析方面,对MTBF保证试验与标准定时试验进行比较。接下来分析了MTBF保证试验的贝叶斯分析,结果表明了MTBF保证试验的可行性。文章最后给出了MTBF保证试验的试验程序,并介绍了用AMASS方法评估MTBF保证试验MTBF的方法。
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