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题目:电路板级存储类器件故障模拟方法研究

关键词:BIT软件测试;故障注入;QEMU模拟器

  摘要

随着航空电子设备复杂性的日益增加,机内测试(Built-in Test,BIT)作为系统自检和故障诊断与隔离的重要手段,已在各机载设备中广泛使用,其中很大一部分功能由软件实现。BIT软件能否正确报出故障并隔离故障,成为系统可靠性、安全性的重要环节,而BIT软件测试是提高BIT软件可靠度的一种重要手段。故障注入技术是进行BIT软件测试的主要方法,目前已有很多故障注入方法可以实现或模拟实现板间故障以及设备间故障,而对于电路板级器件的故障注入,由于板上器件高度集成化、封装性等特点现有的故障注入技术暴露了各自的不足。基于此本文提出了基于模拟器的故障注入技术,基于QEMU模拟器以Linux操作系统为客户操作系统,针对系统中可能发生的存储类器件故障实现了故障模拟。具体而言,首先提出了基于模拟器的存储类器件故障注入方法,设计了存储类器件故障模拟的框架,通过对常见存储类器件故障模式的分析构建了故障模型库,之后阐述了故障注入的流程、故障模式匹配流程及故障触发机制。然后,在对QEMU的内存模拟技术进行了分析后,总结了其内存的申请、注册以及访问的具体实现,并对Flash的模拟方法进行了解析,在QEMU内存模拟的基础上实现了RAM、ROM及Flash的具体故障模拟。最后,通过使用QEMU模拟了具体开发板进行了故障注入试验,从而验证了该方法的可行性,并进一步对BIT软件进行了测试,提出了该BIT软件在检测存储类器件故障中的不足,从而说明了本文提出的故障注入技术研究思路和设计方案是正确和可实现的。