题目：Lyot消偏器测试技术研究

在光纤陀螺中，偏振噪声是最主要的噪声源之一。采用Lyot光纤消偏器可以稳定偏振态，抑制偏振误差，并稳定中心波长。衡量消偏器性能的主要指标是偏振度，偏振度的大小直接影响着光纤陀螺的精度。由于Lyot消偏器的偏振度非常低（通常小于1%），现有测试设备及测试手段无法实现如此低的偏振度的测量，已成为当前制约光纤陀螺性能进一步提高的瓶颈之一。因此研究更高精度的偏振度测量方法至关重要。本论文研究基于偏振调制算法的偏振度测试方法。以Xilinx公司Spartan-3系列的XC3S400芯片和Ti公司2000系列的TMS320LF2407A芯片为控制核心，设计了基于光纤挤压型偏振控制器的嵌入式偏振测试系统。根据系统测试方案，利用FPGA丰富的I/O用户管脚外扩了2路模数转换(ADC)和4路数模转换(DAC)；借助DSP高效的数据处理能力进行数据的实时处理；以高性能的对数放大器搭建了光电信号检测电路，有效解决了检测范围不足的问题；根据设计的双光路强度噪声消除方案，对光路器件进行关键性能分析、测试及选型，以此为基础搭建系统光路，有效抑制了测试过程中光功率波动、偏振控制器的偏振相关损耗(PDL)及启动损耗等造成的光路强度噪声。基于四态挤压器的光纤挤压型偏振控制器，在充分建模分析的基础上，提出了用于偏振测试的偏振调制算法，通过邦加球仿真图形及相关数据对其进行了理论验证，并以搭建的硬件测试系统验证了偏振调制算法的功能性和重复性。实验结果表明，所设计的偏振调制算法可以有效地实现对偏振态的控制，从而能够满足Lyot光纤消偏器测试要求。