● 摘要
导弹的贮存可靠性不仅是工业部门的一项重要的研制指标，也是军方最关心的问题，是保证部队战斗力的真正体现。目前加速试验技术主要以单应力加速模型为基础进行探讨研究，对于双应力乃至多应力组合情况下研究较少，理论较为复杂，技术难度大。由于应力水平数及环境因素多，通常试验费用代价高，工程上难以实现。需要寻找一种试验次数较少，效果与全面试验相近的设计方法。本文以电子设备为研究对象，开展了以下几方面的工作：
基于电子设备“贮存时间长、故障发生率低”的特点，考虑贮存阶段遇到温度湿度两种主要环境应力，为制定合理加速贮存试验剖面指导长寿命电子设备产品的加速贮存试验，通过均匀设计法进行应力搭配组合设计，推导产品贮存环境中不同应力组合模式下综合应力大小、失效分布、试验失效时间，应力组合方式以及应力加载台阶等输入信息的优化模型方程式，在此基础上建立一种综合应力加速贮存试验优化设计方案的数学模型。该方法用较少且具有代表性的试验代替全试验，使均匀设计方法规定的应力组合方式适用于综合应力贮存试验剖面设计中。根据优化设计方案的应力组合方式绘制综合应力试验剖面指导试验，所进行试验在加速失效机理与外场一致的前提下基于步降加载方式进行，在效率上要高于基于步加加载试验，能更快加速产品失效，缩短试验时间，有效节约试验费用。
基于可靠性增长的加速贮存寿命评估方法主要基于Gompertz模型和Duane模型进行对比研究。其中，基于Duane模型的可靠性增长的加速贮存寿命评估方法推导出理想步降加速模型，结合理想步降加速模型得到各个应力等级下的加速系数，最后得出产品的贮存寿命，在此基础上进行了Duane模型适用性研究。基于Gompertz模型的可靠性增长的加速贮存寿命评估方法整理研究了模型的适用性，对模型参数估计方法进行了研究，在此基础上进行了模型修正。利用步降应力加速寿命试验数据进行基于Duane模型和Gompertz模型的加速贮存寿命评估方法仿真，主要推算了Duane模型三个台阶下一百组随机失效时间下的寿命估计值。然后以Duane模型推导得出的数据作为基准， 计算不同组数据条件下修正Gompertz模型所得的“当量”试验时间（寿命）估计值并跟Duane模型计算值比较偏差大小，以验证本论文中基于Gompertz模型的可靠性增长的加速贮存寿命评估方法的有效性和正确性。
在文章的最后，总结了全文的研究内容并对进一步的工作进行了展望。