晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（） A、垂直法。 B、斜射法。 C、表面波法。
由发射探头发射的超声波，通过试件后再由另一接收探头接收，这种检验方法称为（） A、表面波法。 B、斜射法。 C、穿透法。 D、垂直法。
因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做（） A、角度调整 。 B、散射 。 C、折射 。 D、扩散。
同一介质中，超声波反射角（）入射角 A、等于。 B、大于。 C、小于。 D、同一波型的情况下相等。
同一介质中，同一波型的超声波反射角（） A、等于入射角 。 B、等于折射角 。 C、与使用的耦合剂有关 。 D、与使用频率有关。
为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用（）进行探伤
