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问题:

[单选] 晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()

A . A、垂直法
B . B、斜射法
C . C、表面波法

声程大于3N且声程相同时,若孔径差1倍,平底孔回波高度差()dB A、12 。 B、3 。 C、6 。 D、12 。 E、9。 超声波探伤中常用的换能器是利用()。 A、磁致伸缩原理。 B、压电原理。 C、肌肤效应。 D、以上都不对。 靠近探头的缺陷不一定都能探测到,因为有() A、声束扩散。 B、材质衰减。 C、仪器阻塞效应。 D、折射。 因工件表面粗糙使超声波束产生的漫射叫做() A、角度调整 。 B、散射 。 C、折射 。 D、扩散。 晶片厚度和探头频率是相关的,晶片越厚,则() A、频率越低 。 B、频率越高 。 C、无明显影响。 晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()
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