题目：基于失效物理的电连接器可靠性预计方法

 

目前电连接器可靠性预计主要是依据基于手册的可靠性预计方法开展的，但参考手册法计算出的电连接器可靠性指标值表现出了明显的问题，与实际失效情况相差较大，对电连接器整体失效率无法给出合理的预计结果。本文针对这问题，提出一种电连接器可靠性预计方法，建立了基于失效物理的电连接器可靠性预计模型。

首先，通过调研电连接器的结构组成，将其结构分为四个部分：接触件、绝缘体、壳体和其他附件，并分别对这四个部分的失效进行统计，确定其主要失效部位集中在接触件和绝缘体中，详细分析各部分的失效原因，形成电连接器主要失效机理及影响表，确定了接触件的主要失效原因是膜层厚度增加导致接触电阻增大超出失效阈值引起的性能退化失效，其主要环境影响因素为温度和振动应力。

其次，分析目前电连接器可靠性预计模型存在的问题及出现这些问题的主要原因，针对这些问题给出一种新的电连接器可靠性预计方法，其将电连接器整体失效率划分为四个部分：局部失效率、设计过程影响因素、生产过程影响因素和使用过程影响因素，并通过层次分析法确定关键设计因素，给出电连接器可靠性预计简化模型。

再次，对电连接器可靠性预计整体模型中的局部失效率进行分析，给出局部失效率模型的详细推导过程，运用极大似然估计法和最小二乘估计法，给出局部失效率模型和关键设计因素数据统计处理方法。

最后，进行电连接器多应力加速退化试验设计，运用前面给出的数据统计处理方法，拟合出局部失效率模型参数，确定关键设计因素的影响因子，给出电连接器可靠性预计整体模型，并用一组完整产品的试验数据对给出的局部失效率模型进行初步验证。