题目：基于Nspm-6800型扫描探针显微镜的原子力声显微镜的研究

超声检测技术在材料特性分析中有着广泛的应用。利用超声波照射样品，通过换能器收集反射、透射或散射信号，就可以获得材料的各种特性，如内部的微结构和缺陷等。然而，由于衍射效应，传统的探测方法分辨率不高。根据超声波的波长，一般声学方法的分辨率在毫米量级左右，因此无法实现在更精细尺度上对样品性质的显微观察分析。原子力显微镜（Atomic Force Microscope - AFM）是一种常用的显微观察分析装置，可对样品进行纳米尺度上的观察分析。但这种显微镜一般只能观察样品的表面形貌，而对表面以下的结构却难以分析。将超声检测技术与原子力显微技术结合，构成的原子力声显微镜（Atomic Force Acoustic Microscope - AFAM）可以实现对样品表面以下的结构进行纳米量级的显微分析，可广泛应用于各种材料的微观特性测量，内部微结构和缺陷检测分析等领域，具有很高的应用价值。