● 摘要
近年来，中国半导体行业飞速发展，国产芯片的规模越来越大，复杂度也越来越高。随着设计水平的提高，也给芯片的测试技术带来了新的挑战。特别是嵌入式存储器的测试问题已经成为重点的研究对象。同时，随着芯片的应用领域越来越广，芯片的安全性问题也必须要慎重考虑。
论文的选题是为了解决兴唐通信公司现阶段以及未来在嵌入式存储器的可测性设计以及芯片的安全防护问题。XXX芯片是兴唐通信公司第一个自主设计的芯片项目，在芯片嵌入式存储器的测试以及安全防护方面的设计都没有经验可以遵循，完全是从零开始。因此本文的研究内容成了现阶段公司在进行芯片可测性设计时的必要途径。
论文首先研究了国内外以及业界在可测性设计方面存在的问题，明确了课题研究目标与任务，其次重点研究了关于嵌入式存储器的可测性设计方法，通过分析比较选出满足项目需求的测试方法并通过设计实现。最终通过自动测试机台对芯片嵌入式SRAM进行故障筛选，来验证设计的正确性。
论文的中的另一个研究方向是关于芯片安全防护技术的研究，首先研究了芯片主要的攻击手段及防护技术，并结合本项目实际设计需求，确定了FLASH的安全防护策略并通过设计实现。最终通过自动测试机台对芯片安防控制器进行测试，来验证设计的正确性。