[判断题] 双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

按照尽可能声束与缺陷垂直的原则，选择探头主要考虑所测试件的结构和厚度。 正确。 错误。 探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。 正确。 错误。 频率下限则由探伤灵敏度、脉冲高度及指向性决定。 正确。 错误。 直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。 正确。 错误。 探头的种类有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。 正确。 错误。 双晶探头用于探测工件近表面缺陷。