问题:
A . 主要包括远端环回测试和负荷环回测试两种方式B . 远端环回:进入芯片就环回回去,不做任何处理C . 负荷环回:信号进入到芯片内部,经过编解码后再环回出去D . 远端环回:进入芯片就环回回去,但要做一些简单处理。
● 参考解析
本题暂无解析
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