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问题:

[判断题] 容易探测到的缺陷尺寸一般不小于超声波长的一半。

A . 正确
B . 错误

收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。 正确。 错误。 聚焦探头的焦距场,相当于其不聚焦来说,F一定大于近场长度。 正确。 错误。 用单斜探头检查厚焊缝时容易漏掉与探测面垂直的大而平的缺陷。 正确。 错误。 超声波从材料1进入材料2,随声阻抗比Z1/Z2的增大而透过的声压增大。 正确。 错误。 探伤仪的分辨率主要与仪器的放大倍数有关。 正确。 错误。 容易探测到的缺陷尺寸一般不小于超声波长的一半。
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