● 摘要
利用微波辐射计系统进行地球遥感测量时，需要定标来校准测量系统，定标的精度直接影响测量的精度。因此，提高微波辐射计定标源黑体的精度和稳定性，精确测量微波辐射计定标源黑体的发射率，以及定标设备影响的分析，是当前辐射计定标研究中的关键性问题，与单站反射率测量相比，双站散射测量系统可提高黑体发射率测量精度。论文对双站测量系统进行建模与仿真分析，有助于理解定标源黑体发射率的测量。 首先，采用数值计算方法对定标源黑体的微波散射特性进行研究。论文利用时域有限差分方法计算出的包围在定标源黑体周围的有限封闭面上的散射电磁场分布，基于等效原理将封闭面上的电磁场外推得出空间任意位置上的散射场。进而，利用空间散射场分布计算黑体的发射率。论文仿真得到定标源黑体散射场的空间分布，以及定标源黑体发射率的数值计算值。 其次，仿真分析定标源黑体发射率测量系统。依据近场平面扫描测量技术，忽略散射场在接收天线处的二次散射，将由等效原理外推所得的黑体定标源的散射电磁场与接收天线口面的电磁场耦合积分，仿真计算接收天线的接收功率。得到接收功率的空间分布，再根据系统测试条件仿真待测黑体的发射率。 通过仿真得到了定标源黑体散射场分布，天线接收功率随着空间位置的分布。讨论了黑体发射率与散射场分布和接收功率之间的关系，分析了测量系统。关键字：黑体；发射率；近场；双站测量
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