题目：高性能定点数字信号处理器测试系统的硬件设计

    随着科学技术的不断发展、创新，集成电路芯片的系统集成化增强、结构更加多样化、性能大幅提高，这些导致测试技术无法满足对集成电路的测试需要。因此，为解决这些问题，可测性技术被广泛地应用于当今集成电路的设计和测试。本文基于边界扫描测试技术为一款高性能定点数字信号处理器研制测试系统，主要讨论了此测试系统的硬件原理设计与实现，以及测试结果。
    本文主要的研究工作内容如下：
    1.根据待测数字信号处理器（0902）的性能参数、外设接口和测试规范制定了本测试系统的测试内容和系统总设计框架。
    2.讨论了本测试系统的硬件原理设计方法。依据待测DSP的功能模块分别讨论了其硬件的原理设计，包括所使用的重要器件、关键信号的连接关系等。最后重点分析了基于FPGA控制整个DSP功能测试的系统原理设计方法，该系统为高性能集成电路芯片的测试提供了很好的借鉴。
    3.讨论了本测试系统涉及的高速信号的布线设计，仿真了被测试系统关键信号的信号完整性。通过仿真分析，本测试系统能够很好的应用于待测DSP的高速外设接口的测试。
    4.讨论了本系统对待测DSP（0902）的测试工作以及测试结果。通过最后的测试，本文所述的基于边界扫描测试技术的测试系统能够很好的实现对高性能DSP的测试，对类似的测试系统的研制有很好的借鉴意义。