题目：锂分子扩散带的研究

本文首次报道了分别通过双光子共振激发力离子和锂原子而得到的一些新的扩散带受激辐射结果。 实验中，当以588-610nm范围内任意波长的脉冲激光双光子激发锂离子时，均可观察到波段位于427.3-497.3nm 范围内的扩散带受激辐射，起中有两个扩散带峰，它们分别位于440和458nm波长处。经过进一步的研究，我们发现，440和458nm峰的强度在我们所研究的温度和缓冲气压范围内具有相同的变化规律，根据已经报到的实验数据及计算结果，我们有理由认为他们产生于同一过程，即23IIg-a3Σ u+ 实践中，我们发现，当选择的激发波长满足锂原子2s-4s双光子共振激发波长571.06nm时，产生了波段位于488-522nm范围内的扩散带受激辐射，在热管路的温度T=750℃时，就可以明显的观察到在497.3nm到517nm波长处出现了宽带受激辐射，随着温度的增加，分子信号逐渐增加，原字信号的增加速度明显小于分子信号。当激发波长偏离双光子共振激发波长时，我们发现原子和分子信号都消失了，这表明，这种碰撞转移过程对于4s态的布局有着很强的依赖性。根据有关文献报道的数据和我们用计算机得到的计算结果，我们初步认为488-522nm出的宽带受激辐射产生于 23Σ g+ -- a3Σ u+ 跃迁较为合理。