莱姆波可用于检查（） A、锻件。 B、棒坯。 C、铸锭。 D、薄板。
晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（） A、垂直法。 B、斜射法。 C、表面波法。
由发射探头发射的超声波，通过试件后再由另一接收探头接收，这种检验方法称为（） A、表面波法。 B、斜射法。 C、穿透法。 D、垂直法。
超声波垂直入射至异质界面时，反射波和透射波的（） A、波型不变 。 B、波型变换 。 C、传播方向改变。
同一介质中，超声波反射角（）入射角 A、等于。 B、大于。 C、小于。 D、同一波型的情况下相等。
晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚，则（）
