● 摘要
传统的可靠性评估是以故障数据为基础，然而随着产品可靠性越来越高，寿命越来越长，产品的故障数据越来越少，甚至为零，所以传统的可靠性评估理论已不能够满足此类产品的评估要求。产品使用过程中的性能退化数据包含着大量的寿命信息，是可靠性分析的一个丰富的信息源，这就为高可靠性、长寿命产品提供了可靠性评估的新途径。本文便是以电子产品的步进应力加速退化试验数据为基础，对产品的退化过程进行研究，对步进应力加速退化试验的加速模型进行分析，探索出适用于工程实际的退化数据的统计分析方法。本文包括以下研究内容：1)研究步进应力加速退化试验方法，对试验的应力施加方法、应力水平及试验的截止原则进行分析。给出加速退化因子定义，基于步进应力加速退化试验及退化过程的5个假设，研究几种加速退化模型，并详细研究基于随机过程的产品性能退化模型及加速退化模型。2)运用回归模型分析和拟合产品性能退化过程，研究时间序列分析应用于产品性能退化数据的方法，并以某光电产品的性能退化数据为例，进一步说明两种方法的原理及区别。3)以功率放大电路为典型电子产品，对其进行步进应力加速退化试验，借用信号预处理手段对退化数据进行预处理，并分别采用回归模型与自回归移动平均模型对折合后的退化数据拟合基于随机过程的性能退化模型。最后对其进行寿命及可靠性评估，验证这种统计分析方法的工程适用性及有效性。在文章的最后，总结了全文的研究内容并对进一步的工作进行了展望。关键词：步进应力加速退化试验，加速退化模型，随机过程，自回归移动平均模型