同直径的三个平底孔处于同一试块中，但深度分别为100、200和300mm，在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时，回波最高的平底孔深度为（）。 A、100mm。 B、200mm。 C、300mm。 D、都相同。
70°探头折射角测定应（）。 A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧。 B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧。 C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔。 D、在半圆试块上测定。
尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（）。 A、呈75°角且平滑的缺陷。 B、呈75°角且粗糙的缺陷。 C、呈90°角且平滑的缺陷。 D、相垂直且粗糙的缺陷。
在检测条件相同的情况下，某一个缺陷的指示埋藏深度及回波高度与对比试块上φ4mm平底孔相同，则该缺陷的大小相当于（）平底孔。 A、φ2mm。 B、φ4mm。 C、φ3mm。 D、φ5mm。
任何一种超声波探伤方法中，正确地解释和评价缺陷回波是很重要的，通常使用的评价缺陷尺寸的方法是（）。 A、双探头检测法。 B、标准压电元件法。 C、波形转换法。 D、试块对比法。
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。
