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问题:

[多选] 总体比例假设检验的基本形式有()。

H0:π=π0,H1:π≠π0。H0:π≥π0,H1:π<π0。H0:π≤π0,H1:π>π0。H0:π≠π0,H1:π=π0。H0:π>π0,H1:π≤π0。

问题:

[多选] 检验统计量一般包括()

z统计量。t统计量。s统计量。m统计量。Y统计量。

问题:

[单选] 在假设检验中,显著性水平α是()。

原假设为真时被拒绝的概率。原假设为真时被接受的概率。原假设为伪时被拒绝的概率。原假设为伪时被接受的概率。

问题:

[多选] 下面关于单侧和双侧假设检验的说法正确的有()。

在显著性α水平下,检验假设H0:μ=μ0;H1:μ≠μ0的假设检验,称为双侧假设检验。右侧检验和左侧检验统称为单侧检验。在显著性α水平下,检验假设H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假设检验,称为左侧检验。在显著性α水平下,检验假设H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假设检验,称为右侧检验。在显著性α水平下,检验假设H0:μ≤μ0;H1:μ>μ0的假设检验,称为右侧检验。

问题:

[多选] 在大样本的情况下,检验H0:μ=μo,H1:μ>μo,则()成立时,可接受原假设。

实测显著性水平P值<显著性水平α。P值>α。Z<Z0。Z>Z0。Z>Zα/2。

问题:

[多选] 设总体为正态总体,总体方差未知,在小样本条件下,对总体均值进行如下的假设检验H0:μ=μ0,(μ0为已知数);Hl:μ≠μ0,α=0.1。则下列说法正确的有()。

(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)为原假设的拒绝区域。(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)为原假设的拒绝区域。(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)为原假设的拒绝区域。(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)为原假设的拒绝区域。若检验统计量的绝对值越大,则原假设越容易被拒绝。

问题:

[多选] 小样本情况下,总体均值检验的统计量可能为()。

A。B。C。D。E。

问题:

[多选] 为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况,假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为:平均使用寿命μ0为100小时,标准差σ为10小时。现在随机抽取100个该类型的电子元件,测得平均寿命为102小时,给定显著性水平α=0.05,为了判断该电子元件的使用寿命是否有明显的提高,下列说法正确的有()。

['提出假设H0:μ≤100;H1:μ>100。提出假设H0:μ≥100;H1:μ<100。检验统计量及所服从的概率分布为。如果Z>Zα,则称与μ0的差异是显著的,这时拒绝H0。检验结果认为该类型的电子元件的使用寿命确实有显著提高。

问题:

[多选] 下列选项中,指标恒为正的有()。

相关系数。判定系数。复相关系数。回归方程的截距。回归方程的斜率。

问题:

[多选] 当两个现象完全相关时,下列统计指标值成立的有()。

r=1。r=0。r=-1。Syx=0。Syx=1。