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集成电路制造工艺员(三级)题库
问题:
[多选] 沾污是指半导体制造过程中引入半导体硅片的任何危害微芯片()的不希望有的物质。
A . 功能
B . 成品率
C . 物理性能
D . 电学性能
E . 外观
沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。 不会影响成品率。 晶圆缺陷。 成品率损失。 晶圆损失。 影响采剥方法选择的主要因素有哪些? 由锥度1:10和斜度1:10形成的两锐角三角形中,其最小夹角()。 锥度夹角大。 斜度夹角大。 相同。 无法比较。 从受力情况看,吊钩钩身的断面形状最合理的是()。 圆形。 梯形。 T字形。 矩形。 采剥方法按工作线布置形式分为几种? 沾污是指半导体制造过程中引入半导体硅片的任何危害微芯片()的不希望有的物质。
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相关题目:
沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。
影响采剥方法选择的主要因素有哪些?
由锥度1:10和斜度1:10形成的两锐角三角形中,其最小夹角()。
从受力情况看,吊钩钩身的断面形状最合理的是()。
采剥方法按工作线布置形式分为几种?
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