商品学的创始人是（）。 约翰•贝克曼；。 达尔文；。 陆羽；。 李时珍。
探测面与工件底面不平行时（）。 A、导致荧光屏图象中失去底面回波。 B、难以对平行于入射面的缺陷进行定位。 C、通常表示在金属中存在疏松状态。 D、减小试验的穿透力。
国外最早涉及商品学领域的著作是（）。 《完美商人》；。 《商业之美》；。 《商品学导论》。
商品学起源于（）。 美国；。 英国；。 意大利；。 德国。
表面波能检查的深度一般不大于（）。 A、10mm。 B、4mm。 C、1个波长。 D、4倍波长。
商品学产生和发展的前提在于（）。
