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问题:

[问答题,论述题] 论述贯通式中心取样工法与普通冲击器CSR中心取样工法在钻进工艺和取样方法上的不同点。

晶闸管由()层半导体组成。 ["4","3","2","1"] 印刷压力是由()产生的。 ["滚筒重力","包衬变形","纸张厚度变化","滚筒转动"] 减法防毡缩整理 干整理 什么是刚性轴?什么是挠性轴? 论述贯通式中心取样工法与普通冲击器CSR中心取样工法在钻进工艺和取样方法上的不同点。
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