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问题:

[单选] 从长棒一端进行纵波检查时,纵向分布的缺陷最可能发生的影响是()

A . A、使底波显著降低
B . B、在始波和底波之间产生回波,无法确定反射体的位置
C . C、底波后面的迟到波间距改变或波幅降低
D . D、在时基线上产生较多的杂波

用一台时基线已准确校正的超声波仪器和斜探头探测圆心无切槽的半圆试块,第一次回波位于满刻度为10的水平刻度2处,则圆弧面的第三次回波必定出现在水平刻度的()处 A、5。 B、7.5。 C、8。 D、10。 用双晶直探头在棒材上扫查时,应尽可能使探头隔声层的放置与棒材轴线() A、平行。 B、成45°角。 C、垂直。 D、成60°角。 在液浸探伤时可消除探头近场影响的方法是() A、提高频率 。 B、用大直径探头 。 C、改变水层距离 。 D、用聚焦探头探测。 超声波探伤中采用较高的探伤频率有利于提高:() 对小缺陷的检出能力。 对缺陷的定位精度。 相邻缺陷的分辨能力。 以上都是。 在超声波检测法中,用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时可以:() A.不考虑探伤面的声能损失补偿。 B.不考虑材质衰减的补偿。 C.不使用校正试块。 D.以上都是。 从长棒一端进行纵波检查时,纵向分布的缺陷最可能发生的影响是()
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