探测面光洁度不同，横通孔直径、取向、距离都相同，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度（）。 A、相同。 B、光洁度低的高。 C、光洁度高的高。 D、光结度高的低。
同直径的三个平底孔处于同一试块中，但深度分别为100、200和300mm，在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时，回波最高的平底孔深度为（）。 A、100mm。 B、200mm。 C、300mm。 D、都相同。
70°探头折射角测定应（）。 A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧。 B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧。 C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔。 D、在半圆试块上测定。
用试块对比法求得的缺陷大小（）。 A、称为当量。 B、与实际大小相等。 C、是缺陷的最大长度。 D、是缺陷的最大宽度。
在检测条件相同的情况下，某一个缺陷的指示埋藏深度及回波高度与对比试块上φ4mm平底孔相同，则该缺陷的大小相当于（）平底孔。 A、φ2mm。 B、φ4mm。 C、φ3mm。 D、φ5mm。
处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度（）。
