● 摘要
导弹的贮存可靠性不仅是工业部门的一项重要的研制指标，也是军方最关心的问题，是保证部队战斗力的真正体现。为了在定型时确定导弹的贮存寿命，加速贮存试验越来越受到重视。目前加速试验方法的应用受到加速模型的限制，只适用于元器件及材料级试验。设备级产品包含着多种元器件和材料，导致其贮存失效的因素或机理比较复杂，无法满足加速寿命试验的单失效机理要求，因此难以选定合适的加速应力，大大限制了设备级产品的加速试验的研究。本文以电子设备为研究对象，开展了以下几方面的工作：基于电子设备“贮存时间长、故障发生率低”的特点，考虑整个贮存阶段遇到的多种环境应力，通过对试验设计方法的分析对比研究，并结合电子设备自身特点，选用试验设计方法中的分式析因设计方法进行电子设备综合环境加速贮存试验设计，并以温度、湿度以及电压为例，进行三应力三水平的综合环境加速贮存试验设计。基于电子设备寿命服从指数分布的特点，主要开展基于加速模型和可靠性增长的加速贮存寿命评估方法研究。基于加速模型的加速贮存寿命评估方法首先进行加速模型中阿伦尼斯模型和逆幂律模型的研究，并结合电子设备的寿命分布类型，进行其加速系数的研究，最后利用极大似然估计评估出电子设备贮存应力下的寿命以及失效率；基于可靠性增长的加速贮存寿命评估方法主要基于Duane模型和Amass模型得到其理想步降加速模型，结合理想步降加速模型得到各个应力等级下的加速系数，最后评估出产品的贮存寿命。利用步进应力加速寿命试验数据和步降应力加速寿命试验数据进行基于加速模型的加速贮存寿命评估方法和可靠性增长的加速贮存寿命评估方法Monte Carlo仿真，证明本文中的两种加速贮存寿命评估方法针对步降以及步进加速寿命试验数据均可适用，且对于试验中的样本失效数无限制，最后验证本论文中两种加速贮存寿命评估方法对两种试验数据类型的有效性和正确性。在文章的最后，总结了全文的研究内容并对进一步的工作进行了展望。