题目：基于PTM的EMCCD光电参数测试技术研究及实现

微光成像技术作为一门现代高新技术，其应用越来越广泛。微光技术在发展早期，仅仅应用于军事领域；21世纪以后，微光成像技术跨越式发展，技术能力迅速提升，成像器件的硬件成本大幅下降，促使微光成像技术的应用延伸到工业、科学、航空航天等领域；特别是最近几年，微光成像技术应用延伸到生命生物科学领域，该领域的单光子荧光成像技术，已经成为当今生命科学的研究热门之一。

本文针对新兴的EMCCD微光成像器件，深入研究EMCCD的成像原理与噪声特性，设计并实现了一套基于PTM的EMCCD光电参数测试系统。

首先建立EMCCD光电参数测试方法研究的理论基础。本文基于PTM对EMCCD进行数学建模，详细分析与总结影响EMCCD光电参数的主要噪声来源，推导公式并指出EMCCD信号与噪声的输入、输出关系。

       依据EMCCD建模理论可知在测试EMCCD光电参数时存在耦合问题，必须建立特殊的测试方法来实现光电参数解耦。本文按EMCCD光电参数的特性将测试分为五组，并提出各组的详细测试方法，以达到光电参数解耦的目的，最后设计并实现了EMCCD光电参数测试的具体方案。

       为了测试EMCCD芯片的成像清晰度，本文利用基于奈奎斯特频率的MTF测试理论，设计并实现了EMCCD相机的MTF测试系统，并最终在MTF系统上进行实际测试。

       本文在已实现的EMCCD光电测试系统上对iXon Ultra 888型号EMCCD相机进行实际测试。测试结果表明，应用本文提出的测试方法对EMCCD进行光电参数测量，整体测试精度小于10%，重复精度小于5%。