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题目:简单散射体RCS缩比测量研究

关键词:RCS缩比测量,有耗目标,阻抗边界条件 ,镜面散射,次级散射源

  摘要



       在微波暗室中进行缩比模型测量是研究目标电磁散射特性的一个重要手段。相比于全尺寸测量,缩比模型测量具有测试方便、成本低廉、受外部环境影响较小等优点。特别是随着测试技术和模型加工工艺的进步,缩比测量受到越来越多的关注。但由于经典电磁相似理论的限制,目前RCS缩比测量多见于目标为金属或无耗、低损耗介质的情况。而金属表面涂覆吸波材料又是最常使用的一种缩减目标RCS的手段,因此,研究有耗目标的缩比测量规律具有重要意义。

       本文首先对典型简单散射体的电磁散射机理进行分析,并给出了它们光学区RCS的近似表达式。紧接着从Maxwell方程角度出发介绍了经典电磁相似理论,并通过对金属散射体进行RCS缩比测量进行验证;其次通过理论及仿真实验给出了经典相似理论对有耗目标失效的根本原因。然后,基于阻抗边界条件研究了有耗目标镜面散射(包括多次镜面散射在内)的RCS缩比测量方法,通过仿真以及实际测量对该方法的精度进行验证,并从理论上分析了该方法的有效性和误差。最后,对直边缘绕射以及表面行波等次级散射源的RCS缩比测量方法进行了探索研究,得到一些有益的结论