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问题:

[单选] 聚焦探头的焦距f,相对于其不聚焦来说一定是()。

A . A、f大于近场长
B . B、f小于近场长
C . C、f等于近场长
D . D、f任选

检验近表面缺陷,最有效的方法是()。 A、可变角探头。 B、直探头。 C、斜探头。 D、收/发联合双晶探头。 试述商品学研究的核心内容和具体内容。 试述现代商品概念的四个层次。 从20世纪80年代起,世界商品学开始步入()的现代商品学时代。 商品学研究商品使用价值的目的是为()提供决策依据。 聚焦探头的焦距f,相对于其不聚焦来说一定是()。
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