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问题:

[单选] 单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()

A . 近场干扰
B . 材质衰减
C . 盲区
D . 折射

工件表面形状不同时耦合效果不一样,下面的说法中,哪点是正确的() 平面效果最好。 凹曲面居中。 凸曲面效果最差。 以上全部。 超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为:() 检测灵敏度。 时基线性。 垂直线性。 分辨力。 超声波探伤仪的探头晶片用的是下面哪种材料:() 导电材料。 磁致伸缩材料。 压电材料。 磁性材料。 仪器的垂直线性好坏会影响:() 缺陷的当量比较。 AVG曲线面板的使用。 缺陷的定位。 以上都对。 仪器水平线性的好坏直接影响:() 缺陷性质判断。 缺陷大小判断。 缺陷的精确定位。 以上都对。 单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()
参考答案:

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