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问题:

[单选] 锻件中缺陷的取向通常为()。

A . A.杂乱
B . B.平行于晶粒流向
C . C.垂直于晶粒流向
D . D.与晶粒流向成45°角

商品的交换使用价值 容易探测到的缺陷尺寸一般不小于()。 A、波长的一半。 B、1个波长。 C、1/4波长。 D、若干波长。 商品的使用价值 在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因()。 A、可能是疏松。 B、可能是大晶粒。 C、可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良。 D、上述三种都可能。 开槽的超声参考试块可用于()。 A、确定缺陷深度。 B、评定表面缺陷。 C、作为评定长条形缺陷的标准。 D、作评定点状缺陷的标准。 锻件中缺陷的取向通常为()。
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