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问题:

[多选] 光通道衰减是再生段S、R点之间的衰减,光通道衰减测试方法有()基准方法是,第一替代方法是,第二替代方法是。

A、剪断法。B、后向散射法。C、前向散射法。D、介入损耗法。

问题:

[多选] SDH中与复用段保护倒换有关的时间有()。

A、检测时间。B、倒换时间。C、等待恢复时间。D、准备时间。

问题:

[判断题] 在SDH测试中,如果是需要在SDH支路口观察误码,一般采用TSS1信号结构,如果仪表不支持TSS1结构,可采用TSS5信号结构。()

正确。错误。

问题:

[判断题] SDH测试信号时,当需要在支路观察误码,且设备具有一种以上速率接口时,通常选择最高速率接口进行测试,如果设备具有同种速率接口时,可将所有支路串接起来观察误码。()

正确。错误。

问题:

[判断题] SDH设备的结合抖动是支路映射和指针调整结合作用,在设备解复用侧的PDH支路输出口产生的抖动。()

正确。错误。

问题:

[判断题] SDH中利用通道开销C2字节测试只能在STM-N支路口进行。()

正确。错误。

问题:

[判断题] SDH设备的环回功能有二种,即STM-1内部环回和通道内部环回。()

正确。错误。

问题:

[问答题,简答题] 简述SDH测试信号结构TSS1的功能。

问题:

[问答题,简答题] 简述SDH测试信号结构TSS3的功能。

问题:

[问答题,简答题] 简述SDH测试信号结构TSS4的功能。