问题：
[单选] 应用有人工反射体的参考试块主要目的是：（）
作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据。为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具。为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证。提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体。
问题：
[单选] 下面那种参考反射体与入射声束角度无关：（）
平底孔。平行于探测面且垂直于声束的平底槽。平行于探测面且垂直于声束的横通孔。平行于探测面且垂直于声束的V型缺口。
问题：
[单选] 测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（）
声束扩散损失。耦合损耗。工件几何形状影响。以上都是。
问题：
[单选] 在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：（）
只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值。只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值。只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值。人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准。
被检工件厚度太大。工件底面与探测面不平行。耦合剂有较大声能损耗。工件与试块材质，表面光洁度有差异。
问题：
[单选] 探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用：（）
声阻抗小且粘度大的耦合剂。声阻抗小且粘度小的耦合剂。声阻抗大且粘度大的耦合剂。以上都不是。
问题：
[单选] 超声容易探测到的缺陷尺寸一般不小于：（）
波长的一半。一个波长。四分之一波长。若干个波长。
问题：
[单选] 与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）
单斜探头法。单直探头法。双斜探头前后串列法。分割式双直探头法。
问题：
[单选] 探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高、（）
与探测面平行的大平底面。R200的凹圆柱底面。R200的凹球底面。R200的凸圆柱底面。
问题：
[单选] 锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）
工件中有大面积倾斜缺陷。工件材料晶粒粗大。工件中有密集缺陷。以上全部。
