问题：
[单选] 以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）
探测范围大。盲区小。工件中近场长度小。杂波少。
问题：
[单选] 以下哪一条，不属于双晶探头的性能指标（）
工作频率。晶片尺寸。探测深度。近场长度。
问题：
[单选] 斜探头前沿长度和K值测定的几种发放中，哪种方法精度最高：（）、
半圆试法和横孔法。双孔法。直角边法。不一定，须视具体情况而定。
问题：
[单选] 用以标定或测试超声探伤系统的，含有模拟缺陷的人工反射体的金属块叫：（）
晶体准直器。测角器。参考试块。工件。
问题：
[单选] 对超声探伤试块材质的基本要求是：（）
其声速与波探工件声速基本一致。材料中没有超过Ф2mm平底孔当量的缺陷。材料衰减不太大且均匀。以上都是。
问题：
[单选] CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同
长横孔。平底孔。球孔。以上B和C。
问题：
[单选] 采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（）
直探头探伤法。脉冲反射法。斜探头探伤法。穿透法。
问题：
[单选] 超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（）
A.较低频探头。B.较粘的耦合剂。C.软保护膜探头。D.以上都对。
问题：
[单选] 超声检验中，选用镜片尺寸大的探头的优点是（）
曲面探伤时可减少耦合损失。可减少材质衰减损失。辐射声能大且能量集中。以上全部。
问题：
[单选] 如果在耦合介质中的波长为λ，为使透声效果好，耦合层厚度为（）
λ/4的奇数倍。λ/2的整数倍。小于λ/4且很薄。以上B和C。
